|
เมนูหลัก
|
|
| นท537 | การวิเคราะห์วัสดุนาโนเชิงฟิสิกส์ |
| Physical Characterization Technique for Nanomaterials |
| สังกัด | วิทยาศาสตร์, วิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีนาโน |
| หน่วยกิต | 3 (3-0-6) |
| สถานะรายวิชา: | ใช้งาน | | เลือก ปีการศึกษา: 1 / 2564 | | รายชื่อ |  |
|
| | | เชียงใหม่ | | ปริญญาโท ปกติ | | กลุ่ม | วัน | เวลา | ห้อง | อาคาร | เรียน | ที่นั่ง(เปิด-ลง-เหลือ) | หมวด | | | | 01 | | อังคาร | 15:00-16:30 | วิทย์ 2303 | 105 | C | 5 | 3 | 2 | W |  | | | | | ศุกร์ | 15:00-16:30 | วิทย์ 2303 | 105 | C | | | | | | | | | | อาจารย์ / เจ้าหน้าที่/เอกสารประกอบการสอน: | รองศาสตราจารย์ ดร.ชูพงษ์ ภาคภูมิ
อาจารย์ ดร.สุรีย์พร สราภิรมย์
รองศาสตราจารย์ ดร.ธีรพล ธุระกิจเสรี | | | | ผู้คุมสอบกลางภาค: | | | | | สอบปลายภาค: | | | | | ผู้คุมสอบปลายภาค: | | |
|
| Course Description
วิธีการวิเคราะห์ขั้นพื้นฐานและขั้นสูงเชิงฟิสิกส์เพื่อศึกษาสมบัติและโครงสร้าง รวมถึงลักษณะทางกายภาพของวัสดุระดับนาโนที่มีขนาดตั้งแต่หนึ่งหรือสองนาโนเมตรจนถึงระดับร้อยนาโนเมตร (ท่อนาโนคาร์บอน ควอนตัมดอท และเส้นลวดนาโน) โดยใช้เทคนิคการวิเคราะห์ด้วยรังสีเอ็กซ์
(เช่น XRD EDX XPS XAS) เทคนิคการสแกน (เช่น SEM AFM STM SPM) เทคนิคทางแสงและการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอน เทคนิคการตรวจจับโฟตอน ไอออน และอิเล็กตรอน เทคนิคทางสเปคโตรสโคปี และวิธีทางความร้อน
Fundamerntal and advanced characterizations to study properties, structures and physical images of nanomaterials, whose characteristic dimensions are a few to a few hundred nanometers (carbon nanotubes, quantum dots,
andnanowires) by using x-ray (XRD EDX XPS XAS), scanning (SEM AFM STM SPM), optical and electrons diffraction techniques, photon and electron detections, spectroscopic methods and thermal analysis techiniques.
หมายเหตุ
เรียน C = Lecture L = Lab R = ประชุม S = Self Study T = ติว
หมวด B = วิชาเสริมพื้นฐาน E = วิชาเลือกเฉพาะสาขา F = วิชาเลือกเสรี M = วิชาพื้นฐาน W = วิชาบังคับ X = - ยังไม่กำหนด |
| |
ภาษาไทย 
English
